X-ray Fluorescence SpectrometryX-ray 형광
<P>XRF (X-ray fluorescence spectrometry) is a non-destructive analytical technique used to identify and determine the concentrations of elements present in solid, powdered and liquid samples.</P><P><BR>XRF is capable of measuring elements from beryllium (Be) to uranium (U) and beyond at trace levels often below one part per million and up to 100%.</P><P><BR>The <A href="../../../../xrfproducts" target=_self>XRF s</A><A href="../../../../xrfproducts" target=_self>pectrometer</A> measures the individual component wavelengths of the fluorescent emission produced by a sample when irradiated with X-rays.<BR><BR></P><P align=center><IMG alt="X-ary electromagnetic radiation" src="../../../../assets/textualcontent/x-ray_electromagnetic_radiation.jpg" border=0></P><P><BR><STRONG>WDXRF</STRONG></P><P><A href="../../../../wdxrf">WDXRF</A> (wavelength dispersive X-ray fluorescence) separation is achieved by diffraction, using an analyzer crystal that acts as a grid. The specific lattice of the crystal selects the correct wavelengths according to <A href="../../../../index.cfm?pid=314" target=_self>Bragg's Law</A>. </P><BR>A WDXRF spectrometer provides: <UL><LI>the advantages of total application versatility<LI>optimal measurement conditions programmable for each element<LI>excellent light-element performance<LI>very high sensitivity and low detection limits.</LI></UL><P><BR><STRONG>EDXRF</STRONG></P><P><STRONG></STRONG><A href="../../../../edxrf">EDXRF</A> (energy dispersive X-ray fluorescence) spectrometry works without a crystal.</P><BR>An EDXRF spectrometer includes special electronics and software modules to take care that all radiation is properly analyzed in the detector. It provides a lower cost alternative for applications where less precision is required. The high-end <A href="../../../../epsilon5" target=_self>Epsilon 5 XRF spectrometer</A> uses the 3D EDXRF techniques featuring a 3-dimensional, polarizing optical geometry.<DIV> </DIV><DIV> </DIV>XRF(X선 형광 분석기)는 비파괴 분석 기법으로 고체, 분말 및 액체 시편의 원소 농도 식별하기 위해 사용합니다. XRF는 베릴륨(Be)에서 우라늄(U)까지 원소의 극미량 농도에서 최대 100%까지 측정할 수 있습니다. <BR><BR><A class="" href="http://www.xrdml.com/index.cfm?pid=174" target=_self>XRF(X선 형광 분석기)</A>는 X선이 조사된 시편에서 생성된 형광 물질의 각각의 파장을 측정합니다. <BR><BR><STRONG>WD XRF</STRONG> <P></P>WD XRF(파장 분산형 X선 형광 분석기)의 파장 분산은, 격자와 같은 기능을 하는 분석 결정체(Crystal)을 이용한 회절로 이루어집니다. 특정 결정 격자는 Bragg의 법칙에 따라 적절한 파장을 선택합니다. <BR><BR>WDXRF분석기는 다음과 같은 장점을 제공합니다. <P></P><UL><LI>전체적으로 애플리케이션 다양성을 제공 <LI>각 원소별로 프로그램 가능한 최적의 측정 조건 <LI>경원소에 우수한 성능 <LI>매우 높은 감도 및 낮은 검출 한계 </LI></UL><BR><P><STRONG>ED XRF</STRONG> </P><P></P><P>ED XRF(에너지 분산형 X선 형광 분석기) 분광계는 결정체(Crystal) 없이 동작합니다. <BR><BR>EDXRF 분석기는는 특수 전자 및 소프트웨어 모듈이 내장되어 검출기(Detector)가 모든 형광 X-선을 적절히 분석하도록 조정합니다. 정밀도 요구가 비교적 덜한 제품에서는 저가형 대체품의 기능도 합니다. 고급형 <A class="" href="http://www.xrdml.com/index.cfm?pid=259" target=_self>Epsilon 5 XRF spectrometer</A>은 3차원 편광 광학 기하학을 특징으로 하는 3D EDXRF 기법을 활용합니다. </P><DIV> </DIV><DIV> </DIV><DIV> </DIV>
company