<p>X-ray diffraction (XRD) is a versatile, non-destructive technique that reveals detailed information about the chemical composition and crystallographic structure of natural and manufactured materials.</p> <p><br/><strong>Crystal lattice</strong></p> <p>A crystal lattice is a regular three-dimensional distribution (cubic, rhombic, etc.) of atoms in space. These are arranged so that they form a series of parallel planes separated from one another by a distance <i>d</i>, which varies according to the nature of the material. For any crystal, planes exist in a number of different orientations - each with its own specific <i>d</i>-spacing. </p> <p><br/><strong>Constructive interference</strong></p> <p>When a monochromatic X-ray beam with wavelength <i>lambda</i> is projected onto a crystalline material at an angle<i> theta</i>, diffraction occurs only when the distance traveled by the rays reflected from successive planes differs by a complete number <i>n</i> of wavelengths.</p> <p><br/><strong>Bragg's Law</strong></p> <p>By varying the angle <i>theta</i>, the Bragg's Law conditions are satisfied by different<i> d</i>-spacings in polycrystalline materials. Plotting the angular positions and intensities of the resultant diffracted peaks of radiation produces a pattern, which is characteristic of the sample. Where a mixture of different phases is present, the resultant diffractogram is formed by addition of the individual patterns. </p> <p><br/>Based on the principle of X-ray diffraction, a wealth of structural, physical and chemical information about the material investigated can be obtained. A host of application techniques for various material classes is available, each revealing its own specific details of the sample studied.</p>X-ray diffraction(XRD)은 다양하고 비파괴적인 기법으로 천연 자원과 제조 원료의 화학 구성 및 결정학적 구조에 관한 상세한 정보를 분석합니다. <BR><BR><STRONG>결정 격자(crystal lattice)</STRONG> <P></P>결정 격자는 공간에서의 원자의 규칙적인 3차원 배열(cubic, rhombic, etc.)을 말합니다. 이들은 재료 특성에 따른 고유의 거리 d를 기준으로, 서로 독립적으로 일련의 평행면을 형성하며 배열됩니다. 모든 결정에는 각기 다른 수많은 방향의 평면이 존재하며 각각은 고유의 d 간격을 가집니다. <BR><BR><STRONG>보강 간섭(Constructive interference)</STRONG> <P></P>파장 lambda의 단색화 파장 X-ray beam이 theta angle에서 crystalline material에 조사될 경우, 회절은 단일 평면상에서 산란의 결과에 따라 두 평행광의 경로 차를 파장의 정수(n)이라고 합니다. 만일 평행광의 경로 차가 한 파장의 길이와 같다면 Bragg's Law에 따라 n 은 1이 됩니다. <BR><BR><STRONG>Bragg의 법칙(Bragg's Law)</STRONG> <P></P>Theta angle을 변화시킴으로써 Bragg’s Low의 조건은 다결정 재료의 각기 다른 d 간격으로 충족할 수 있습니다. 방사선의 결과에 따른 회절 피크의 각도 위치와 강도를 조정하면, 시편의 특성이 되는 패턴이 형성됩니다. 각기 다른 위상이 복합될 경우 최종적인 diffractogram은 각 패턴을 추가하여 형성됩니다. <BR><BR>X선 회절 원리를 기초로 검사 대상인 재료의 충분한 구조적, 물리적 및 화학적 정보를 얻을 수 있습니다. 또한 다양한 재료에 대한 응용 기법을 사용할 수 있으며, 각각 연구 시편의 고유한 세부 정보를 파악할 수 있습니다.
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